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题目内容（请给出正确答案）

[单选题]

工件中缺陷的取向与X射线入射方向（)时,在底片上能获得最清晰的缺陷影像

A.垂直

B.平行

C.倾斜45°

D.都可以

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更多“工件中缺陷的取向与X射线入射方向()时,在底片上能获得最清晰…”相关的问题

第1题

被检件中缺陷的取向与超声波的入射方向（)时,可获得最大超声波反射：

A.垂直

B.平行

C.倾斜45°

D.都可以

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第2题

在超声检测中,当缺陷的取向与超声波入射方向()时,能获得最大的超声波反射。

在超声检测中,当缺陷的取向与超声波入射方向（)时,能获得最大的超声波反射。

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第3题

在检验工件时若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波，若底面回波的高度剧烈下降，引起这种情况的原因可能是（)

A.大而平的缺陷与入射声束取向不良

B.疏松

C.晶粒粗大

D.以上都是

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第4题

X射线检测是无损检测（无损探伤)中的重要方法之一，它是利用（)来检查工件内部缺陷的一种方法

A.γ射线

B.X射线

C.α射线

D.β射线

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第5题

X射线检测是无损检测（无损探伤)中的重要方法之一，它是利用X射线来（)的一种方法

A.检查工件内部缺陷

B.准确定位

C.检查工件配置

D.ABC均不对

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第6题

X射线探伤照相中采用胶片检测透射X射线的强度，从胶片上可显示出被测试工件的局部缺陷或结构差异的（)

A.性质

B.数学关系

C.部位

D.物理化学关系

E.大小

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第7题

已知方解石的晶格常数为0.303nm，X射线以与晶面法线成60度角的角度入射，观察到第一级反射极大，X射线的波长为（)。

A.0.303nm

B.0.572nm

C.0.606nm

D.0.262nm

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第8题

采用适当的探测器（例如，X射线探伤照相中采用胶片)检测透射X射线的强度，从胶片上可显示出被测试工件的（)部位、大小和性质

A.整体结构的

B.原子微观结构差异的

C.局部缺陷或结构差异的

D.分子微观结构差异的

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第9题

典型成年受检者X射线摄影的剂量指导水平中AP位（前后位)投照腹部，每次摄影入射体表剂量为（)。

A.5mGy

B.7mGy

C.10mGy

D.30mGy

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第10题

方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是（)

A.平行且靠近探测面

B.与声束方向平行

C.与探测面成较大角度

D.平行且靠近底面

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