题目内容
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[单选题]
扩散硅压阻片的测压原理是半导体的电阻变化率与被测压力()。
A.成正比
B.成反比
C.成线性关系
D.成一定的函数关系
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A.成正比
B.成反比
C.成线性关系
D.成一定的函数关系
A.扩散硅芯片由单晶硅经过采用集成工艺技术经过掺杂、扩散制成
B.其硅片上沿单晶硅的特点晶向,制成应变电阻,构成惠斯凳电桥
C.集力敏与力电转换检测于一体
D.根据压阻效应,将压力转换成破坏惠斯凳电桥桥路平衡的电流,再根据电流变化与压力大小的非线性关系,推算压力大小