首页 > 医卫考试 题目内容 (请给出正确答案) [单选题] 渗碳件渗层出现大量残余奥氏体缺陷的可能产生原因是()。 A.奥氏体不稳定,奥氏体中碳的含量较低B.奥氏体不稳定,奥氏体中合金元素的含量较低C.回火后冷速太快D.回火不及时,奥氏体热稳定化 查看答案 答案 收藏 如果结果不匹配,请 联系老师 获取答案 您可能会需要: 您的账号:,可能还需要: 您的账号: 发送账号密码至手机 发送 重置密码 查看订单 联系客服 安装优题宝APP,拍照搜题省时又省心! 重要提示:请勿将账号共享给其他人使用,违者账号将被封禁。